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High-Performance Fiber Optic Spectrometer for Non-Destructive Film Thickness Measurement with TE-Cooled CCD Chip

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Espectrômetro de fibra óptica de alto desempenho para medição da espessura da película não destrutiva com chip CCD arrefecido por TE

Quantidade de ordem mínima :	1	Preço :	Negociável
Detalhes da embalagem :	Embalagem de transporte internacional	Tempo de entrega :	90-120 dias de trabalho
Termos de pagamento :	T/T, Western Union	Habilidade da fonte :	100PCS/90-120 dias

Lugar de origem:	China	Marca:	JINSP
Certificação:	ISO9001	Número do modelo:	SR100Q
Documento:	Folheto PDF do produto

Informação detalhada
Faixa espectral:	200 nm - 1100 nm	Pixéis eficazes:	1024*122
Eficiência Qutuam:	QE92% peak@650nm, 83%@232nm	SNR:	1000:1

Descrição de produto

92% Espectrômetro Quântico Alto paraMedição da espessura da película

A utilização generalizada de películas finas nas indústrias de alta tecnologia exige métodos avançados de avaliação da espessura.protocolos de alta eficiênciaAo combinar a análise espectral com o aprendizado de máquina, os fabricantes conseguem um controlo sem precedentes sobre as propriedades do filme, catalisando a inovação dos produtos.

O espectrômetro JINSP SR100Q está integrado com o Hamamatsu S7031, um chip CCD de área arrefecida por TE de nível científico.Com um tamanho de pixel de até 24*24μm e excelente eficiência quântica de até 92%, garante uma elevada resposta na faixa ultravioleta e melhora eficazmente a sensibilidade e a SNR dos sinais fracos.e desempenho estável e confiável baseado no caminho de luz avançado de alta resolução e baixo ruído, chip de processamento de sinal FPGA de alta velocidade.

Parâmetros do produto:

Dector	Tipo de chip	Hamamatsu S7031 com iluminação traseira e arrefecimento por TE
	Pixel efetivo	1024*122
	Tamanho do pixel	24*24 μm
	Área de detecção	24.576*2.928mm
Óptica Parâmetros	Projeto óptico	Tipo cruzado F/4
	Abertura numérica	0.13
	Distância focal	100 mm
	Largura da fenda de entrada	10 μm, 25 μm, 50 μm, 100 μm, 200 μm (customizável)
	Interface de fibra	SMA905, espaço livre.
Eletrodomésticos Parâmetros	Tempo de integração	8 ms-3600s
	Interface de saída de dados	USB3.0, RS232, RS485, conector de 20 pinos
	Profundidade de bits ADC	16 bits
	Fornecimento de energia	5V
	Corrente de funcionamento	< 3,5A
Físico Parâmetros	Temperatura de funcionamento	10°C a 40°C
	Temperatura de armazenamento	-20°C a 60°C
	Umidade de funcionamento	< 90%RH (sem condensação)
	Dimensões	180 mm120 mm50 mm
	Peso	1.2 kg

Lista de modelos de produto:

Modelo	Distância espectral (nm)	Resolução ((nm)	Fenda ((μm)
SR100Q-G21 SR100Q-G22	200 ~ 950 350 a 1100	6.8	200
		2.2	50
		1.5	25
		1.0	10
SR100Q-G23 SR100Q-G24	200 ~ 775 350 a 925	1.6	50
		1.0	25
		0.7	10
SR100Q-G25	532 ~ 690 ((4400cm-1)	13cm-1	50
SR100Q-G26	638~800 ((3200cm-1) *	10 cm-1	25
SR100Q-G27	785 ~ 1050 ((3200cm-1) *	11cm-1	50

**Nota: Os* são concebidos principalmente para aplicações Raman, com o Raman correspondente.**

Características técnicas:

Alta eficiência quântica, 92% pico @ 650nm, 83% @ 232nm
Alto SNR: ruído escuro ultra-baixo sob longo tempo de integração, o SNR é tão elevado quanto 1000:1

Processamento transparente e sem ruído de sinal fraco em exposição prolongada, forte adaptação ao ambiente
Circuito de baixo ruído e alta velocidade: USB3.0

Método de medição:

A luz transmitida através de uma fibra óptica reflete-se nas superfícies superior e inferior do filme, criando dois feixes de deslocamento de fase.permite o cálculo da espessura (d) utilizando o método extremum com θOs filmes mais grossos aumentam a frequência da franja, enquanto os comprimentos de onda mais longos a diminuem.

Espectrômetro de fibra óptica de alto desempenho para medição da espessura da película não destrutiva com chip CCD arrefecido por TE 0

Aplicações típicas:

Detecção de absorção, transmissão e reflexo Espectro
Caracterização da fonte de luz e do comprimento de onda do laser
Módulo de produto OEM: Espectro de fluorescência, Espectro de Raman, etc.

Espectrômetro de fibra óptica de alto desempenho para medição da espessura da película não destrutiva com chip CCD arrefecido por TE 1

Espectrômetro de fibra óptica de alto desempenho para medição da espessura da película não destrutiva com chip CCD arrefecido por TE 2

Introdução da empresa:

A JINSP Company Limited, abreviada como "JINSP", é um fornecedor profissional com mais de 17 anos de experiência em produtos de tecnologia de detecção espectral, incluindo tecnologias Raman, FT-IR, LIBS, etc.Após 17 anos de acumulação de tecnologia, as principais tecnologias-chave da empresa alcançaram a posição de liderança internacional e o número acumulado de pedidos de patente ultrapassou 200.

Além de sua sede principal localizada na movimentada cidade de Pequim, a JINSP estabeleceu uma fábrica subsidiária totalmente de propriedade, localizada na província de Jiangsu, na China.

A empresa JINSP recebeu a ISO9001:2015, ISO14001:2015O JINSP pode fornecer as certificações necessárias, como a certificação do Ministério da Segurança Pública ou do Instituto Nacional de Metrologia,Certificação do nível ambiental, Certificação de nível de PI, Certificação CE, Relatório de identificação de transporte, certificação ECAC da UE, Teste de segurança da TIC alemão, etc..

Perguntas frequentes

P1: Esta é a primeira vez que uso, é fácil de operar?

A1: Enviaremos-lhe um manual e um vídeo de guia em inglês, que lhe ensinará a operar o espectrómetro.

P2: Pode oferecer uma operação de formação?
A2: Os seus técnicos podem vir à nossa fábrica para uma formação.
(instalação, formação, depuração, manutenção).

P3: Qual é o seu site?
A3: Pode visitar: www.jinsptech.com

Q4: Que tal a sua garantia de qualidade?

A4: Temos uma equipe de inspeção de qualidade. Todos os produtos passarão pela inspeção de qualidade antes do envio. Podemos enviar fotos para inspeção.

etiqueta:

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